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RBS-PIXE複合分析法による酸化物超伝導薄膜の評価.
(Characterization of Oxide Superconductor Films by RBS-PIXE.)

石井 明, 中村恵吉, 中村恵吉, 中村恵吉, 中村恵吉.
日本金属学会. 1992年04月01日-1992年04月03日.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2017-02-18 00:23:55 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:13:04 +0900

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