HOME > 口頭発表 > 書誌詳細EF-TEMおよびEDSによる軽元素から重元素までの同時面分析(Elemental mapping of light elements to heavy elements with EF-TEM and EDS)三留 正則, 板東義雄, 倉嶋 敬次. 日本電子顕微鏡学会第58回学術講演会. 2002年05月14日-2002年05月16日.NIMS著者三留 正則倉嶋 敬次Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 02:33:30 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:23:18 +0900