HOME > 口頭発表 > 書誌詳細強誘電トンネル接合の接合抵抗に対する終端面の効果(Surface-termination effect on electroresistance in ferroelectric tunnel junctions)山田浩之, 福地厚, 小林正起, 長井 拓郎, 豊崎喜精, 組頭広志, 澤彰仁. The 22nd International Workshop on Oxide Electronics. 2015年10月07日-2015年10月09日.NIMS著者長井 拓郎Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:58:14 +0900 更新時刻: 2017-07-10 22:09:02 +0900