シリコン基板上に堆積させた銅超微粒子の表面X線散乱
(Surface X-way Scattering from Ultra fine Copper Particles Deposited on Si Wafer)
日本金属学会１９９９年秋期大会. 1999年11月20日-1999年11月22日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:17:23 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:58:55 +0900