HOME > 口頭発表 > 書誌詳細TOF-SIMSによる自己組織膜(SAM)の評価(TOF-SIMS study of self-assembled monolayers)小松学, 齋藤 紀子, 羽田 肇. 第63回 応用物理学会学術講演会. 2002年09月23日-2002年09月27日.NIMS著者齋藤 紀子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 03:02:41 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:36:44 +0900