硬X線光電子分光測定による室温巨大相転移Wド－プVO2薄膜の電子状態評価
(Electronic structure of W-doped VO2 thin films with Giant metal-insulator transition investigated by hard x-ray photo emission spectroscopy)
2010年春季 第57回 応用物理学関係連合講演会. 2010.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:40:34 +0900更新時刻: 2018-05-21 20:44:23 +0900