HOME > Presentation > DetailAESヘPS における装置特性に関するラウンドロビン(Ⅰ).(Robin on Instrument Characterization for AES and XPS (Ⅰ).)吉武 道子, 吉原一紘, VAMAS-SCA-JAPAN, 吉原一紘, VAMAS-SCA-JAPAN. 日本表面科学会. November 30, 1993-December 01, 1993.NIMS author(s)YOSHITAKE, MichikoFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-18 00:44:07 +0900 Updated at: 2018-05-21 17:58:50 +0900