電子線励起SiO2還元によって創製されたSi正常ナノ粒子のTEM観察
(TEM observation of Si clean nanoparticles formed by the electronstimvlated SiO2-redvction )
日本電子顕微鏡学会第５５回学術講演会. 1999年05月18日-1999年05月21日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-01-08 04:04:11 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:53:33 +0900