微小量試料を用いるグロー放電質量分析法による高純度ホウ素及び高純度ケイ素の同位体比測定
(Measurements of isotope rations of high-purity boron and silicon by glow discharge mass spectrometry using the sample of small q)
日本金属学会. 1997年09月24日-1997年09月26日.
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作成時刻: 2017-02-18 01:16:52 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:42:43 +0900