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NIMS Awardシンポジウム2026

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Imaging and modeling of nano-crystalline Xe in Al containing Defects
(欠陥を含むAl中のXeナノ結晶のイメージングとモデリング)

古屋一夫, 宋明暉, 三石和貴, 古屋一夫, 宋明暉, 三石和貴.
工業材料のマイクロメカニクスモデリングのNSFシンポジウム. 1998-07-20.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2017-02-18 01:27:46 +0900 更新時刻: 2023-04-09 15:08:52 +0900

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