斜入射X線散乱法による単結晶TiO2表面のナノスケール形状評価
(Nno-scale analysis of TiO2 single crystal surface by grazing incidence X-ray scatlering.)
第34回 X線分析討論会. 1998年11月09日-1998年11月10日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-18 01:34:33 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:51:52 +0900