HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Critical-Current Degradation in Nb3Al Wires Due to Axial and Transverse Stress.KURODA, Tsuneo, 和田仁, S.Bray, J.Ekin, 和田仁, S.Bray, J.Ekin. 第3回国際土岐会議. 1991年12月03日-1991年12月05日.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 00:22:58 +0900 更新時刻: 2023-04-09 14:54:36 +0900
