300kVエネルギーフィルターTEMによるナノチューブ/ナノワイヤーの構造解析
(Structure and Composition Analysis of Nanotubes and nanowires as Revealed by a New 300kV Energy-Filtered FEGTEM)
Microscopy of Semiconducting Materials. 2003年03月31日-2003年04月03日. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:46:05 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:39:45 +0900