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NIMS Awardシンポジウム2026

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Thermal Deformation Analysis of Electronic Packaging Components Using Electron Moire Method
(電子線モアレ法を用いた電子部品パッケージの熱変形解析)

謝 恵民, KISHIMOTO, Satoshi, 新谷紀雄, Dai.Fulong Zou.Daging Liu, Sheng, 謝 恵民, 新谷紀雄, Dai.Fulong Zou.Daging Liu, Sheng.
応力・歪み測定と強度評価シンポジウム. 1999-01-28.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2017-02-18 01:37:05 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:53:11 +0900

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