UHV-TEM/STMで観察したSi(111)再構成表面
(Reconstructed surface of Si(111) observed by UHV-TEM/STM)
日本電子顕微鏡学会第56回学術講演会. 2000年05月17日-2000年05月19日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 01:54:24 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:02:34 +0900