X線反射法による薄膜のキャラクタリゼーション.
(Characterization of Thin Films by X-ray Reflectometry.)
第29回X線分析討論会. 1993-11-08.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 00:44:23 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:25:29 +0900