SPring-8における透明アモルファス酸化物薄膜ん９硬Ｘ線光電子分往訪による評価
(Evaluation of TAOS by Hard X-ray Photoemission Spectroscopy at SPring-8.)
Intn. Symp. on Transparent Amorphous Oxide Semiconductors. 2006-11-22. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:45:18 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:18 +0900