HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Measuring ZnO c-Axis Polarity With X-ray Photoelectron Diffraction)ウィリアムズ ジェシー ロバート, 大橋 直樹, 小林 啓介, 小畠 雅明, ピス イゴール. STAC-4. 2010年06月21日-2010年06月23日.NIMS著者大橋 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:27:25 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:50:54 +0900