Alにイオン注入で生成したXe析出物のEnergy-Filtered ImagingとEELSIによる解析
(Analysis of Xe precipitates in Al formed with ion imp;antation by means of Energy-Fittered Imaging and EELS)
日本電子顕微鏡学会第５５回学術講演会. 1999年05月18日-1999年05月21日.
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作成時刻: 2017-01-08 04:36:04 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:55:38 +0900