酸素分子線のGe(100)表面での反応性散乱のREMPI測定
(REMPI Weasurement of Reactive Scattering of O2 Molecular Beam on Ge(100) Surface)
第12回化学反応討論会. 1996年05月29日-1996年05月31日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 01:05:29 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:36:45 +0900