HOME > 口頭発表 > 書誌詳細シリサイド薄膜の相対スパッタエッチングレート比のエネルギー依存性(The measurements of relative sputter etching rate for silicide thin film.)山内康弘, 吉武道子, 表面分析研究会SERDプロジェクトグループ. 第42回 真空に関する連合講演会. 2001年10月17日-2001年10月19日.NIMS著者吉武 道子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 11:09:29 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:09:29 +0900