S終端GaAs(001)面の光電子回析による観測
(X-ray Photoelectron Diffraction Study on Sulfur-Terminated GaAs(001))
日本物理学会 秋の分科会. 1995年09月27日-1995年09月30日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 05:12:23 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:33:50 +0900