HOME > 口頭発表 > 書誌詳細低加速収差補正STEMによるビスマス系高温超伝導体の観察(Low-tension Cs-corrected STEM imaging of Bi-based high-Tc superconductor)長井 拓郎, 治田 充貴, 菊地昌志, 竹口 雅樹, 木本 浩司. 日本顕微鏡学会第69回学術講演会. 2013年05月20日-2013年05月22日.NIMS著者長井 拓郎竹口 雅樹木本 浩司Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:32:35 +0900 更新時刻: 2018-06-05 13:19:35 +0900