イオン照射下でのSi及びGaAsに発生する二次欠陥の動的観察.
(Dynamic Observation of Ion Irradiation Induced Defects in Si and GaAs.)
日本電子顕微鏡学会. 1992年06月02日-1992年06月04日.
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作成時刻: 2017-02-14 11:20:08 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:13:21 +0900