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実時間ラマンによる2H-WS2のイオン照射誘起欠陥とフォノン閉じ込め
(Ion Beam Induced Defects and Phonon Confinement in 2H-WS2 by In-situ/Real-time Raman Measurements)

北島 正弘, 石岡 邦江, F.S.Ohuchi, F.S.Ohuchi.
46th-AVS. 1999.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-02-18 01:49:48 +0900更新時刻: 2017-07-10 18:00:01 +0900

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