HOME > 口頭発表 > 書誌詳細実時間ラマンによる2H-WS2のイオン照射誘起欠陥とフォノン閉じ込め(Ion Beam Induced Defects and Phonon Confinement in 2H-WS2 by In-situ/Real-time Raman Measurements)北島 正弘, 石岡 邦江, F.S.Ohuchi, F.S.Ohuchi. 46th-AVS. 1999.NIMS著者石岡 邦江Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 01:49:48 +0900更新時刻: 2017-07-10 18:00:01 +0900