温度誘起価数転移を示す Eu(Rh1–xIrx)2Si2 の硬 X 線光電子分光
(Hard X-ray photoemission study of the temperature-induced valence transition system Eu(Rh1–xIrx)2Si2)
日本物理学会2015年秋季大会. 2015.
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作成時刻: 2017-01-08 03:31:04 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:12:54 +0900