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NIMS Awardシンポジウム2026

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欠陥漏洩磁束の測定(磁化方向の角度の影響)
(Measurement of Defect Magnetic Leakage Flux)

植竹一蔵, 伊藤秀之, 植竹一蔵, 伊藤秀之.
昭和55年度NDI春季講演大会. 1980年03月18日-1980年03月19日.

NIMS著者


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      作成時刻: 2017-01-08 04:11:56 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:00:14 +0900

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