Ｘ線回折を利用した銀シースBi(2212)テープ材の応力／ひずみ状態の解析
(Stress/strain state in Ag/Bi(2212) tapes estimated by using X-ray diffraction)
第63回2000年度秋季低温工学超電導学会. 2000年10月31日-2000年11月02日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:46:12 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:10:03 +0900