HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Electron Microscopy of the ternary germanide YPt0.5Ge1.5)アラム シャー, 長井 拓郎, 鬼頭聖, 松井 良夫. 日本顕微鏡学会第61回学術講演会. 2005年06月01日-2005年06月03日.NIMS著者長井 拓郎松井 良夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:38:26 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:22:57 +0900