HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電顕内集束イオン照射による格子欠陥の素機能の計測・評価の可能性.古屋一夫, 古屋一夫. 格子欠陥会議. 1990-10-06.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 00:20:02 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:10:54 +0900
