HOME > 口頭発表 > 書誌詳細グラフェンのコーナーエッジにおける局所状態密度(Density of States near Graphene Corner Edge)下村祐司, 高根美武, 若林 克法. 日本物理学会第65回年次大会. 2010年03月20日-2010年03月23日.NIMS著者若林 克法Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:25:39 +0900 更新時刻: 2017-07-10 20:46:25 +0900