ドリフト試料を高速撮像用CCDカメラで短時間連続撮影した電子顕微鏡画像のシフト加算処理によるS/N比の向上
(Improvement of Signed/Noise Ratio by "Shiftand Add" Image Process for Short-time Exposed TEM Images of Drifting Specimen Area Ta)
日本電子顕微鏡学会第５２回学術講演会. 1996年05月22日-1996年05月24日.
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作成時刻: 2017-02-18 01:04:32 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:36:16 +0900