Energy-Fitened Imaging とEELSによる50KeV Xe ions
(Enerhy-filtered imaging and EELS stndy of Al implanted with sokeV Xe ions)
日本金属学会 1998年 秋期期（第123回）大会. 1998年09月28日-1998年09月30日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-01-08 03:21:15 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:51:23 +0900