Spring-8アンジュレータ放射光を用いた全反射蛍光X線分析法による10fgレベル超微量分析
(Detection of 10fg level trace metals by total-reflection X-ray fluorescence with undulator radiation at Spring-8)
第１３回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム. 2000年01月07日-2000年01月09日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 01:50:58 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:00:41 +0900