単粒子測定法によるシリコン1粒子の初回充電挙動解析
(Advanced Single Particle Measurement Technique for Fundamental Study of First Charging Mechanism of One Silicon Particle)
PRiME2016. 2016.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-14 10:57:01 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:30:16 +0900