SAMURAI - NIMS Researchers Database

NIMS Awardシンポジウム2026

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

走査型トンネル顕微鏡とフラクタルと幾何学の材料損傷への応用 ―原子レベルの材料損傷評価―.
(Application of Scanning Tunneling Microscope and Fractal Geometry to Material Damage - Damage Evaluation in Atomic Scale.)

松岡三郎, 松岡三郎.
第4回原子力先端研究国際杓累灼角. 1991年02月05日-1991年02月07日.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2017-02-14 11:06:14 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:12:40 +0900

      ▲ページトップへ移動