HOME > Presentation > Detail陽電子消滅CDB測定によるAl-Mg-Si-(Cu)系合金の時効硬化挙動の検討(The CDB measurement on age hardening behavior of Al-Mg-Si-(Cu))本間 智之, 松本克史, 永井康介, 長谷川雅幸, 宝野 和博. 日本金属学会2003年春期大会. March 27, 2003-March 29, 2003.NIMS author(s)HONO, KazuhiroFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 04:55:54 +0900 Updated at: 2017-07-10 18:40:08 +0900