HOME > Presentation > Detail収差補正ローレンツ顕微鏡法による磁場のサブナノスケールイメージング(Sub-nanoscale imaging of magnetic fields using aberration-corrected Lorentz microscopy)長井 拓郎, 木本 浩司, 伊野家浩司, 竹口 雅樹. 共用・計測合同シンポジウム2017. 2017-03-09.NIMS author(s)NAGAI, TakuroKIMOTO, KojiTAKEGUCHI, MasakiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 03:38:00 +0900 Updated at: 2017-07-10 22:33:21 +0900