HOME > 口頭発表 > 書誌詳細収差補正ローレンツ顕微鏡法による磁場のサブナノスケールイメージング(Sub-nanoscale imaging of magnetic fields using aberration-corrected Lorentz microscopy)長井 拓郎, 木本 浩司, 伊野家浩司, 竹口 雅樹. 共用・計測合同シンポジウム2017. 2017.NIMS著者長井 拓郎木本 浩司竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:38:00 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:33:21 +0900