HOME > Presentation > Detailその場UHV-TEMによるSi(111)上のβ-FeSi2 の構造及び電子状態の評価(Microstructure and Electronic Structure characterization of β-FeSi2 on Si (111) Surface by in situ Ultrahigh Vacuum Transmissio)田中 美代子, ZHANG Qi, 韓 明, 竹口 雅樹, 古屋 一夫. アジア太平洋表面及び界面分析会議. 2002.NIMS author(s)TANAKA, MiyokoTAKEGUCHI, MasakiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-18 02:45:15 +0900Updated at: 2017-07-10 18:28:48 +0900