HOME > Presentation > Detail硬X線光電子分光を用いたFe3-xMxO4(M=Mn,Zn)薄膜の電子構造評価(Electronic structure of Fe3-xMxO4 thin films investigated by Hard X-ray photoemission spectroscopy)鷹尾伏純一, 石川瑞恵, 佐藤一成, 田中秀和, 川合知二, 上田 茂典, 金正鎮, 小畠雅明, 池永英司, 小林 啓介, 西野吉則, 三輪大五, 玉作賢治, 石川哲也. 第54回応用物理学関係連合講演会. 2007.NIMS author(s)UEDA, ShigenoriFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 05:31:27 +0900Updated at: 2017-07-10 19:51:12 +0900