HOME > 口頭発表 > 書誌詳細アルゴンエッチングによって薄膜化されたMoS2膜の層数識別(Thickness identification of MoS2 thinned by Ar etching)二之宮成樹, 森 貴洋, 内田紀行, 渡辺 英一郎, 津谷 大樹, 森山 悟士, 田中正俊, 安藤 淳. 2014 Tsukuba Nanotechnology Symposium (TNS’14). 2014.NIMS著者渡辺 英一郎津谷 大樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:08:14 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:55:45 +0900