HOME > 口頭発表 > 書誌詳細２次反射消滅効果を用いた電子線照射中の試料温度の測定深町正利, 菊池武丕児, 菊池武丕児, 深町正利, 菊池武丕児, 菊池武丕児. 日本物理学会. 1974-04-01.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:05:56 +0900 更新時刻: 2017-07-10 16:56:11 +0900
