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NIMS Awardシンポジウム2026

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拡散確率モデルによる電子後方散乱回折画像の生成
(Generation of Electron Backscatter Diffraction Images Using Denoising Diffusion Probabilistic Models)

山村 健登, 江村 聡, 白岩 隆行, 榎 学.
日本金属学会2025年春期(第176回)講演大会. 2025年03月08日-2025年03月10日.

NIMS著者


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    作成時刻: 2025-03-25 03:07:06 +0900 更新時刻: 2025-03-25 03:07:06 +0900

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