HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電子線モアレ法によるファイバー周辺の残留応力測定岸本 哲, Yong Ming Xing, 新谷 紀雄. 日本機械学会 2004年度 年次大会. 2004.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:08:34 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:03:04 +0900
