電子線回析強度測定法を用いた長範囲規則度導出システムの開発と規則化過程に関する基礎研究への応用
(Development of the System for Long-range Order Parameter Detemination From Eletron Diffraction Intensities and Its Appkication t)
日本電子顕微鏡学会・第５１回学術講演会. 1995年05月24日-1995年05月26日.
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作成時刻: 2017-02-18 00:56:23 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:32:04 +0900