HOME > 口頭発表 > 書誌詳細反射率測定によるK8Ga8Si38クラスレートのバンド構造評価(Characterization of band structure of K8Ga8Si38 clathrate by optical reflectance)飯岡優, 鵜殿治彦, 今井 基晴, 青木正人. 第61回応用物理学会春季学術講演会. 2014.NIMS著者今井 基晴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 11:18:27 +0900 更新時刻 :2017-07-10 21:48:07 +0900