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反射率測定によるK8Ga8Si38クラスレートのバンド構造評価
(Characterization of band structure of K8Ga8Si38 clathrate by optical reflectance)

飯岡優, 鵜殿治彦, 今井 基晴, 青木正人.
第61回応用物理学会春季学術講演会. 2014.

NIMS著者


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    作成時刻 :2017-02-14 11:18:27 +0900 更新時刻 :2017-07-10 21:48:07 +0900

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