SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

反射率測定によるK8Ga8Si38クラスレートのバンド構造評価
(Characterization of band structure of K8Ga8Si38 clathrate by optical reflectance)

飯岡優, 鵜殿治彦, 今井 基晴, 青木正人.
第61回応用物理学会春季学術講演会. 2014年03月17日-2014年03月20日.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2017-02-14 11:18:27 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:48:07 +0900

    ▲ページトップへ移動