Stuctural and EELS Analytical Study of Nano-drystal Siin UHV-FE-TEM
(超高真空電界放射形電子顕微鏡によるSiナノ結晶の構造とEELS分析の研究)
Port Ludlow Workshop Towards Atemic Resolution Analysis. 1998年09月06日-1998年09月11日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-18 01:33:04 +0900 更新時刻: 2023-04-09 15:09:45 +0900