HOME > 口頭発表 > 書誌詳細陽電子消滅法によるAuイオン注入MgOにおける欠陥挙動の研究宮越 達三, 藤浪真紀, 澤田嗣郎, 増尾 和也, 岸本 直樹, 赤羽 隆史. 日本分析化学会第53年会. 2004.NIMS著者岸本 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:17:41 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:07:21 +0900
