HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Siとの接合を利用した酸化物半導体材料の局在準位の評価(Detection of localized states in oxide semiconductors using junction with Si substrate)大垣 武, 松尾直人, 大橋 直樹, 羽田 肇, 大串 秀世. 2008年春季第55回応用物理学関係連合連合講演会. 2008年03月27日-2008年03月30日.NIMS著者大垣 武大橋 直樹羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:52:47 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:09:15 +0900