HOME > Presentation > Detail価数転移を示すEuNi2(Si1-xGex) (x=0.70, 0.79, 0.82)の硬X線光電子スペクトルの温度依存性市木勝也, 三村功次郎, 安斎太陽, 魚住孝幸, 本並哲, 小林大祐, 佐藤仁, 内海有希, 上田 茂典, 光田暁弘, 和田裕文, 田口幸広, 島田賢也, 生天目博文, 谷口雅樹. 第27回日本放射光学会年会. January 11, 2014-January 13, 2014.NIMS author(s)UEDA, ShigenoriFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 03:30:40 +0900Updated at: 2017-07-10 21:48:21 +0900